葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x是用于各種高度植物冠層研究的儀器，可以無損測(cè)量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等參數(shù)。

葉面積指數(shù)測(cè)量?jī)x廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測(cè)量分析以及農(nóng)林業(yè)科研工作。